Arto Javanainen

Aktiiviset JYU-affiliaatiot

Tutkimuskuvaus

Nyky-yhteiskunnan riippuvuus elektronisista järjestelmistä vaatii elektroniikkakomponenttien ja materiaalien säteilynkeston tutkimista. Näin saadaan luotettavampia järjestelmiä sekä satelliitteihin että maanpinnalle. Näissä ympäristöissä säteilyilmiöt ovat ja tulevat olemaan merkittäviä järjestelmien luotettavuuden kannalta.

Tieteenalat

Seurantakohteet

YSO-asiasanat

Hankkeet, joissa vastuullinen johtaja

Hankkeet, joissa on hanketiimin jäsen

Julkaisut ja muut tuotokset

  

  

  

1/5

  

  

  

• Effect of 20 MeV Electron Radiation on Long Term Reliability of SiC Power MOSFETs (2023) Niskanen, Kimmo; et al.; A1; OA 
• Heavy-Ion-Induced Defects in Degraded SiC Power MOSFETs (2023) Martinella, Corinna; et al.; A1; OA;  
• Proton Direct Ionization in Sub-Micron Technologies : Test Methodologies and Modelling (2023) Lüdeke, Sascha; et al.; A1; OA 
• Proton direct ionization upsets at tens of MeV (2023) Coronetti, Andrea; et al.; A1; OA 
• Proton Irradiation-Induced Reliability Degradation of SiC Power MOSFET (2023) Niskanen, Kimmo; et al.; A1; OA 
• Technology Dependence of Stuck Bits and Single Event Upsets in 110, 72, and 63-nm SDRAMs (2023) Söderström, Daniel; et al.; A1; OA 
• Heavy Ion and Proton Induced SEUs in Very Deep Sub-Micron Technologies (2022) Tanios, Bendy; et al.; A4; 979-8-3503-7124-6 
• Heavy-ion induced single event effects and latent damages in SiC power MOSFETs (2022) Martinella, C.; et al.; A1; OA 
• Isotopic Enriched and Natural SiC Junction Barrier Schottky Diodes under Heavy Ion Irradiation (2022) Roed, Ketil; et al.; A1; OA 
• Properties of Gd-Doped Sol-Gel Silica Glass Radioluminescence under Electron Beams (2022) Söderström, Daniel; et al.; A1; OA 
• Proton Direct Ionization in Sub-Micron Technologies : Numerical Method for RPP Parameter Extraction (2022) Lüdeke, Sascha; et al.; A1; OA 
• Assessment of Proton Direct Ionization for the Radiation Hardness Assurance of Deep Submicron SRAMs Used in Space Applications (2021) Coronetti, Andrea; et al.; A1; OA
• Electron-Induced Upsets and Stuck Bits in SDRAMs in the Jovian Environment (2021) Söderström, Daniel; et al.; A1; OA 
• High-energy hadron testing and in-orbit single-event latchup predictions and boundaries (2021) Coronetti, Andrea; et al.; A4; 978-1-6654-3794-3 
• Impact of Terrestrial Neutrons on the Reliability of SiC VD-MOSFET Technologies (2021) Martinella, Corinna; et al.; A1; OA

Tutkimusaineiston tekijä