Timo Sajavaara

Aktiiviset JYU-affiliaatiot

Tutkimuskuvaus

Materiaalien ominaisuudet määräytyvät keskeisesti niiden sisältämien alkuaineiden ja alkuaineatomien välisten sidosten mukaan. Tutkimuksessani, joka hyödyttää sekä perustutkimusta että yritysten soveltavaa tutkimusta, kehitän ja sovellan kiihdytinpohjaisia menetelmiä materiaalien tutkimiseksi ja muokkaamiseksi.

Tieteenalat

Seurantakohteet

Hankkeet, joissa vastuullinen johtaja

Hankkeet, joissa on hanketiimin jäsen

Julkaisut ja muut tuotokset

  

  

  

1/12

  

  

  

• Enhancing electrocatalytic activity in metallic thin films through surface segregation of carbon (2024) Kousar, Ayesha; et al.; A1; OA 
• Ni Drastically Modifies the Microstructure and Electrochemistry of Thin Ti and Cr Layers (2024) Kousar, Ayesha; et al.; A1; OA;  
• Droplet slipperiness despite surface heterogeneity at molecular scale (2023) Lepikko, Sakari; et al.; A1; OA 
• Elongation and plasmonic activity of embedded metal nanoparticles following heavy ion irradiation (2023) Korkos, Spyridon; et al.; A1; OA 
• Low-Temperature Atomic Layer Deposition of High-K SbOx for Thin Film Transistors (2023) Bahrami, Amin; et al.; O1 
• Atomic Layer Deposition of Intermetallic Fe4Zn9 Thin Films from Diethyl Zinc (2022) Ghiyasi, Ramin; et al.; A1; OA 
• Atomic layer deposition of ternary ruthenates by combining metalorganic precursors with RuO4 as the co-reactant (2022) Minjauw, Matthias M.; et al.; A1 
• In‐Operando Lithium‐Ion Transport Tracking in an All‐Solid‐State Battery (2022) Kobayashi, Takane; et al.; A1; OA 
• Low-Temperature Atomic Layer Deposition of High-k SbOx for Thin Film Transistors (2022) Yang, Jun; et al.; A1; OA 
• Nanorod orientation control by swift heavy ion irradiation (2022) Korkos, Spyridon; et al.; A1; OA 
• Size dependent swift heavy ion induced Au nanoparticle elongation in SiO2 matrix (2022) Korkos, Spyridon; et al.; A1; OA 
• Spatial ALD of Al2O3 and ZnO using heavy water (2022) Kinnunen, Sami; et al.; A1; OA 
• Thermomechanical properties of aluminum oxide thin films made by atomic layer deposition (2022) Ylivaara, Oili M. E.; et al.; A1; OA 
• Using Wave Propagation Simulations and Convolutional Neural Networks to Retrieve Thin Film Thickness from Hyperspectral Images (2022) Erkkilä; et al.; A3; 978-3-030-70787-3 
• Al2O3 ALD films grown using TMA + rare isotope 2H216O and 1H218O precursors (2021) Kinnunen, Sami; et al.; A1; OA