Mikko Laitinen

Yleiskuvaus

Aktiiviset JYU-affiliaatiot

Aiemmat, ei-aktiiviset tai muut työsuhteet

Tutkimuskuvaus

Kiihdytinpohjaisen materiaalifysiikan avulla voidaan määrittää materiaalien sisältämät alkuaineet. Tällaisten mittausten avulla asiakas saa selville esimerkiksi epäpuhtaudet joita heidän kasvattamissaan ohutkalvoissa on läsnä ja prosesseja pystytään uuden tiedon avulla parantamaan. Esimerkiksi normaalisti vaikean vedyn pitoisuus ja sijainti saadaan selville promillen tarkkuudella.

Tieteenalat

Seurantakohteet

Hankkeet, joissa vastuullinen johtaja

Hankkeet, joissa on hanketiimin jäsen

Julkaisut ja muut tuotokset

  

  

  

1/5

  

  

  

• Low-temperature ALD of highly conductive antimony films through the reaction of silylamide with alkoxide and alkylamide precursors (2023) He, S.; et al.; A1 
• Low-Temperature Atomic Layer Deposition of High-K SbOx for Thin Film Transistors (2023) Bahrami, Amin; et al.; O1 
• Photo-assisted Cl-, Br- and I- production in caesium sputter ion source (2023) Hossain, A.; et al.; A1; OA 
• In‐Operando Lithium‐Ion Transport Tracking in an All‐Solid‐State Battery (2022) Kobayashi, Takane; et al.; A1; OA 
• Low-Temperature Atomic Layer Deposition of High-k SbOx for Thin Film Transistors (2022) Yang, Jun; et al.; A1; OA 
• Photo-enhanced O−, H− and Br− ion production in caesium sputter negative ion source : no evidence for resonant ion pair production (2022) Hossain, Akbar; et al.; A1; OA 
• Strong absorption and ultrafast localisation in NaBiS2 nanocrystals with slow charge-carrier recombination (2022) Huang, Yi-Teng; et al.; A1; OA 
• Thermomechanical properties of aluminum oxide thin films made by atomic layer deposition (2022) Ylivaara, Oili M. E.; et al.; A1; OA 
• Photo-assisted O− and Al− production with a cesium sputter ion source (2021) Tarvainen, Olli; et al.; A4; OA; 978-0-7354-4109-5 
• Bandgap lowering in mixed alloys of Cs2Ag(SbxBi1−x)Br6 double perovskite thin films (2020) Li, Zewei; et al.; A1; OA
• Experimental evidence on photo-assisted O− ion production from Al2O3 cathode in cesium sputter negative ion source (2020) Tarvainen, O.; et al.; A1; OA 
• A new beamline for energy-dispersive high-resolution PIXE analysis using polycapillary optics (2019) Käyhkö, Marko; et al.; A1 
• Nanoscale etching of III-V semiconductors in acidic hydrogen peroxide solution : GaAs and InP, a striking contrast in surface chemistry (2019) van Dorp, Dennis H.; et al.; A1; OA
• Heavy ion induced Ti X-ray satellite structure for Ti, TiN, and TiO2 thin films (2018) Käyhkö, Marko; et al.; A1 
• Nanoscale Etching of GaAs and InP in Acidic H2O2 Solution : A Striking Contrast in Kinetics and Surface Chemistry (2018) van Dorp, Dennis H.; et al.; A1