A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä
Proton Direct Ionization in Sub-Micron Technologies : Numerical Method for RPP Parameter Extraction (2022)

Lüdeke, S., & Javanainen, A. (2022). Proton Direct Ionization in Sub-Micron Technologies : Numerical Method for RPP Parameter Extraction. IEEE Transactions on Nuclear Science, 69(3), 254-263. https://doi.org/10.1109/tns.2022.3147592

JYU-tekijät tai -toimittajat

Julkaisun tiedot

Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajat: Lüdeke, Sascha; Javanainen, Arto

Lehti tai sarja: IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

eISSN: 1558-1578

Julkaisuvuosi: 2022

Volyymi: 69

Lehden numero: 3

Artikkelin sivunumerot: 254-263

Kustantaja: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Julkaisumaa: Yhdysvallat (USA)

Julkaisun kieli: englanti

DOI: https://doi.org/10.1109/tns.2022.3147592

Julkaisun avoin saatavuus: Ei avoin

Julkaisukanavan avoin saatavuus:

Julkaisu on rinnakkaistallennettu (JYX): https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/79676


This work introduces a numerical method to iteratively extract parameters of a rectangular parallelepiped (RPP) sensitive volume (SV) from experimental proton direct ionization SEU data. The method combines two separate numerical models. The first model estimates the average LET values for energetic ions, including protons and also heavy ions, in elemental solid targets. The second model describes the statistical variance in the energy deposition events of projectile-induced primary ionization within a RPP shaped target volume. To benchmark the method, simulated cross-section values based on RPP parameters derived with this method are compared with literature data from four SRAM devices. The RPP geometries determined by this method reproduced the experimental cross-section values in the literature with good accuracy, therefore showing that this method can be used to reliably and quickly determine the RPP parameters for SVs in memories sensitive to proton direct ionization (PDI). The method is currently strictly limited to direct ionization effects, i.e. not taking into account any nuclear reaction mechanisms, and elemental materials due to the underlying models’ definitions.

YSO-asiasanat: säteilyfysiikka; ionisoiva säteily; protonit; numeeriset menetelmät; Monte Carlo -menetelmät

Vapaat asiasanat: proton direct ionization (PDI); single event upset (SEU); linear energy transfer (LET); straggling; Monte Carlo (MC) method; rectangular parallelepiped (RPP)

Liittyvät organisaatiot


Hankkeet, joissa julkaisu on tehty

Liittyvät tutkimusaineistot

OKM-raportointi: Kyllä

Raportointivuosi: 2022

Alustava JUFO-taso: 1

Viimeisin päivitys 2022-20-09 klo 15:01