A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä
Effect of ECR ion source frequency tuning on ion beam intensity and quality at Department of Physics, University of Jyväskylä (2010)
Toivanen, V., Koivisto, H., Steczkiewicz, O., Celona, L., Tarvainen, O., Ropponen, T., Gammino, S., & Ciavola, G. (2010). Effect of ECR ion source frequency tuning on ion beam intensity and quality at Department of Physics, University of Jyväskylä. Review of Scientific Instruments, 81, 02A319. https://doi.org/10.1063/1.3267287
JYU-tekijät tai -toimittajat
Julkaisun tiedot
Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajat: Toivanen, Ville; Koivisto, Hannu; Steczkiewicz, Olga; Celona, L.; Tarvainen, Olli; Ropponen, Tommi; Gammino, S.; Ciavola, G.
Lehti tai sarja: Review of Scientific Instruments
ISSN: 0034-6748
Julkaisuvuosi: 2010
Volyymi: 81
Artikkelin sivunumerot: 02A319
Julkaisun kieli: englanti
DOI: https://doi.org/10.1063/1.3267287
Julkaisun avoin saatavuus: Ei avoin
Julkaisukanavan avoin saatavuus:
YSO-asiasanat: plasmafysiikka
Vapaat asiasanat: Kiihdytinfysiikka; ionilähteet
Liittyvät organisaatiot
OKM-raportointi: Kyllä
Alustava JUFO-taso: Not rated
