A3 Kirjan tai muun kokoomateoksen osa
Thin Film Characterisation Using MeV Ion Beams (2010)

Sajavaara, T., & Arstila, K. (2010). Thin Film Characterisation Using MeV Ion Beams. In R. Hellborg, H. Whitlow, & Z. Y. Zhang (Eds.), Ion Beams in Nanoscience and Technology (pp. 171). Springer.

JYU-tekijät tai -toimittajat

Julkaisun tiedot

Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajat: Sajavaara, Timo; Arstila, K.

Emojulkaisu: Ion Beams in Nanoscience and Technology

Emojulkaisun toimittajat: Hellborg, R.; Whitlow, Harry; Zhang, Zhe Ying

Julkaisuvuosi: 2010

Artikkelin sivunumerot: 171

Kirjan kokonaissivumäärä: 457

Kustantaja: Springer

Kustannuspaikka: Heidelberg

Julkaisun kieli: englanti

Julkaisun avoin saatavuus: Ei avoin

Julkaisukanavan avoin saatavuus: 

Vapaat asiasanat: Ionisuihku; nanoteknologia

Liittyvät organisaatiot

OKM-raportointi: Kyllä

Alustava JUFO-taso: Not rated