A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa
Heavy Ion and Proton Induced SEUs in Very Deep Sub-Micron Technologies (2022)
Tanios, B., Cárdenas, G. D., Lüdeke, S., Javanainen, A., & Poivey, C. (2022). Heavy Ion and Proton Induced SEUs in Very Deep Sub-Micron Technologies. In RADECS 2022 : Proceedings of the 22nd European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems. IEEE. https://doi.org/10.1109/radecs55911.2022.10412401(external link)
JYU-tekijät tai -toimittajat
Julkaisun tiedot
Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajat: Tanios, Bendy; Cárdenas, Gabriel Durán; Lüdeke, Sascha; Javanainen, Arto; Poivey, Christian
Emojulkaisu: RADECS 2022 : Proceedings of the 22nd European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems
Konferenssin paikka ja aika: Venice, Italy, 3.-7.10.2022
ISBN: 978-1-6654-3795-0
eISBN: 979-8-3503-7124-6
ISSN: 0379-6566
eISSN: 1609-0438
Julkaisuvuosi: 2022
Ilmestymispäivä: 30.01.2024
Kustantaja: IEEE
Julkaisumaa: Yhdysvallat (USA)
Julkaisun kieli: englanti
DOI: https://doi.org/10.1109/radecs55911.2022.10412401(external link)
Julkaisun avoin saatavuus: Ei avoin
Julkaisukanavan avoin saatavuus:
Tiivistelmä
Three deep submicron devices have been tested with heavy ions, low energy protons, and high energy protons in the frame of a study about Single Event Upset induced by Low Energy Protons (LEP). The test data are presented in this paper.
YSO-asiasanat: elektroniikkakomponentit; muistit (tietotekniikka); ionisoiva säteily; ionit; protonit; säteilyfysiikka
Vapaat asiasanat: COTS; SRAM; radiation effects; single event upset; heavy ion; proton direct ionization; low energy protons; high energy protons
Liittyvät organisaatiot
OKM-raportointi: Kyllä
VIRTA-lähetysvuosi: 2023
Alustava JUFO-taso: 1
