A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä
Comparison of Single Event Transients Generated at Four Pulsed-Laser Test Facilities-NRL, IMS, EADS, JPL (2012)

Buchner, S., Roche, N., Warner, J., McMorrow, D., Miller, F., Morand, S., Pouget, V., Larue, C., Ferlet-Cavrois, V., Mamouni, F. E., Kettunen, H., Adell, P., Allen, G., & Aveline, D. (2012). Comparison of Single Event Transients Generated at Four Pulsed-Laser Test Facilities-NRL, IMS, EADS, JPL. IEEE Transactions on Nuclear Science, 59(4), 998-998. https://doi.org/10.1109/TNS.2012.2201956

JYU-tekijät tai -toimittajat

Julkaisun tiedot

Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajat: Buchner, S.; Roche, N.; Warner, J.; McMorrow, D.; Miller, F.; Morand, S.; Pouget, V.; Larue, C.; Ferlet-Cavrois, V.; Mamouni, F. El; et al.

Lehti tai sarja: IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

eISSN: 1558-1578

Julkaisuvuosi: 2012

Volyymi: 59

Lehden numero: 4

Artikkelin sivunumerot: 998-998

Kustantaja: IEEE

Kustannuspaikka: New York

Julkaisumaa: Yhdysvallat (USA)

Julkaisun kieli: englanti

DOI: https://doi.org/10.1109/TNS.2012.2201956

Julkaisun avoin saatavuus: Ei avoin

Julkaisukanavan avoin saatavuus: 

YSO-asiasanat: aallonpituus

Vapaat asiasanat: Heavy ions; operational amplifier; photodiode; pulsed laser; single event transients

Liittyvät organisaatiot

OKM-raportointi: Kyllä

Raportointivuosi: 2012

JUFO-taso: 1