A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä
Analysis of Impedance and Noise Data of an X-Ray Transition-Edge Sensor Using Complex Thermal Models (2012)
Palosaari, M., Kinnunen, K., Ridder, M.L., van der Kuur, J., Hoevers, H.F.C., & Maasilta, I. (2012). Analysis of Impedance and Noise Data of an X-Ray Transition-Edge Sensor Using Complex Thermal Models. Journal of Low Temperature Physics, 167(3-4), 129. https://doi.org/10.1007/s10909-012-0471-4
JYU-tekijät tai -toimittajat
Julkaisun tiedot
Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajat: Palosaari, Mikko; Kinnunen, Kimmo; Ridder, M.L.; van der Kuur, J.; Hoevers, H.F.C.; Maasilta, Ilari
Lehti tai sarja: Journal of Low Temperature Physics
ISSN: 0022-2291
eISSN: 1573-7357
Julkaisuvuosi: 2012
Volyymi: 167
Lehden numero: 3-4
Artikkelin sivunumerot: 129
Kustantaja: Springer
Kustannuspaikka: Berlin
Julkaisumaa: Saksa
Julkaisun kieli: englanti
DOI: https://doi.org/10.1007/s10909-012-0471-4
Julkaisun avoin saatavuus: Ei avoin
Julkaisukanavan avoin saatavuus:
Julkaisu on rinnakkaistallennettu: http://arxiv.org/abs/1112.0400
Vapaat asiasanat: TES Thermal model Impedance Noise
Liittyvät organisaatiot
OKM-raportointi: Kyllä
Raportointivuosi: 2012
JUFO-taso: 1
