A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa
A Methodology for the Analysis of Memory Response to Radiation through Bitmap Superposition and Slicing (2015)

Bosser, A., Gupta, V., Tsiligiannis, G., Ferraro, R., Frost, C., Javanainen, A., Puchner, H., Rossi, M., Saigné, F., Virtanen, A., Wrobel, F., Zadeh, A., & Dilillo, L. (2015). A Methodology for the Analysis of Memory Response to Radiation through Bitmap Superposition and Slicing. In RADECS 2015 : 15th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems. IEEE. Diabetic medicine. https://doi.org/10.1109/RADECS.2015.7365578

JYU-tekijät tai -toimittajat

Julkaisun tiedot

Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajat: Bosser, Alexandre; Gupta, V.; Tsiligiannis, G.; Ferraro, R.; Frost, C.; Javanainen, Arto; Puchner, H.; Rossi, Mikko; Saigné, F.; Virtanen, Ari; et al.

Emojulkaisu: RADECS 2015 : 15th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems

ISBN: 978-1-5090-0232-0

Lehti tai sarja: Diabetic medicine

ISSN: 0742-3071

eISSN: 1464-5491

Julkaisuvuosi: 2015

Kustantaja: IEEE

Julkaisumaa: Yhdysvallat (USA)

Julkaisun kieli: englanti

DOI: https://doi.org/10.1109/RADECS.2015.7365578

Julkaisun avoin saatavuus: Ei avoin

Julkaisukanavan avoin saatavuus: 

Lisätietoja: 15th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, RADECS 2015; Moscow; Russian Federation; 14 September 2015 through 18 September 2015.

Vapaat asiasanat: bitmap slicing; event accumulation; radiation test; Single Event Upset (SEU); Multiple Cell Upset (MCU); SRAM; static test; dynamic test

Liittyvät organisaatiot

OKM-raportointi: Kyllä

Raportointivuosi: 2016

JUFO-taso: 1