A2 Katsausartikkeli tieteellisessä aikausilehdessä
Soft errors in commercial off-the-shelf static random access memories (2017)
Dilillo, L., Tsiligiannis, G., Gupta, V., Bosser, A., Saigne, F., & Wrobel, F. (2017). Soft errors in commercial off-the-shelf static random access memories. Semiconductor Science and Technology, 32(1), Article 013006. https://doi.org/10.1088/1361-6641/32/1/013006
JYU-tekijät tai -toimittajat
Julkaisun tiedot
Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajat: Dilillo, L.; Tsiligiannis, G.; Gupta, V.; Bosser, Alexandre; Saigne, F.; Wrobel, F.
Lehti tai sarja: Semiconductor Science and Technology
ISSN: 0268-1242
eISSN: 1361-6641
Julkaisuvuosi: 2017
Volyymi: 32
Lehden numero: 1
Artikkelinumero: 013006
Kustantaja: Institute of Physics Publishing
Julkaisumaa: Britannia
Julkaisun kieli: englanti
DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6641/32/1/013006
Julkaisun avoin saatavuus: Ei avoin
Julkaisukanavan avoin saatavuus:
Vapaat asiasanat: bitmapping; dynamic mode test; March test; radiation particles; SRAMs; stacked dies; static mode test
Liittyvät organisaatiot
OKM-raportointi: Kyllä
Raportointivuosi: 2017
JUFO-taso: 1