A2 Katsausartikkeli tieteellisessä aikausilehdessä
Soft errors in commercial off-the-shelf static random access memories (2017)


Dilillo, L., Tsiligiannis, G., Gupta, V., Bosser, A., Saigne, F., & Wrobel, F. (2017). Soft errors in commercial off-the-shelf static random access memories. Semiconductor Science and Technology, 32(1), Article 013006. https://doi.org/10.1088/1361-6641/32/1/013006


JYU-tekijät tai -toimittajat


Julkaisun tiedot

Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajatDilillo, L.; Tsiligiannis, G.; Gupta, V.; Bosser, Alexandre; Saigne, F.; Wrobel, F.

Lehti tai sarjaSemiconductor Science and Technology

ISSN0268-1242

eISSN1361-6641

Julkaisuvuosi2017

Volyymi32

Lehden numero1

Artikkelinumero013006

KustantajaInstitute of Physics Publishing

JulkaisumaaBritannia

Julkaisun kielienglanti

DOIhttps://doi.org/10.1088/1361-6641/32/1/013006

Julkaisun avoin saatavuusEi avoin

Julkaisukanavan avoin saatavuus


Vapaat asiasanatbitmapping; dynamic mode test; March test; radiation particles; SRAMs; stacked dies; static mode test


Liittyvät organisaatiot

JYU-yksiköt:


OKM-raportointiKyllä

Raportointivuosi2017

JUFO-taso1


Viimeisin päivitys 2023-13-12 klo 16:51