A2 Katsausartikkeli tieteellisessä aikausilehdessä
Soft errors in commercial off-the-shelf static random access memories (2017)


Dilillo, L., Tsiligiannis, G., Gupta, V., Bosser, A., Saigne, F., & Wrobel, F. (2017). Soft errors in commercial off-the-shelf static random access memories. Semiconductor Science and Technology, 32 (1), 013006. doi:10.1088/1361-6641/32/1/013006


JYU-tekijät tai -toimittajat


Julkaisun tiedot

Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajat: Dilillo, L.; Tsiligiannis, G.; Gupta, V.; Bosser, Alexandre; Saigne, F.; Wrobel, F.

Lehti tai sarja: Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Julkaisuvuosi: 2017

Volyymi: 32

Lehden numero: 1

Artikkelinumero: 013006

Kustantaja: Institute of Physics Publishing

Julkaisumaa: Britannia

Julkaisun kieli: englanti

DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6641/32/1/013006

Avoin saatavuus: Julkaisukanava ei ole avoin


Vapaat asiasanat: bitmapping; dynamic mode test; March test; radiation particles; SRAMs; stacked dies; static mode test


Liittyvät organisaatiot

JYU-yksiköt:


OKM-raportointi: Kyllä

Raportointivuosi: 2017

JUFO-taso: 1


Viimeisin päivitys 2020-17-10 klo 21:45