A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä
Application and development of ion-source technology for radiation-effects testing of electronics (2017)
Kalvas, T., Javanainen, A., Kettunen, H., Koivisto, H., Tarvainen, O., & Virtanen, A. (2017). Application and development of ion-source technology for radiation-effects testing of electronics. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 406(Part A), 205-209. https://doi.org/10.1016/j.nimb.2017.02.051
JYU-tekijät tai -toimittajat
Julkaisun tiedot
Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajat: Kalvas, Taneli; Javanainen, Arto; Kettunen, Heikki; Koivisto, Hannu; Tarvainen, Olli; Virtanen, Ari
Lehti tai sarja: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
ISSN: 0168-583X
eISSN: 1872-9584
Julkaisuvuosi: 2017
Volyymi: 406
Lehden numero: Part A
Artikkelin sivunumerot: 205-209
Kustantaja: Elsevier B.V.
Julkaisumaa: Alankomaat
Julkaisun kieli: englanti
DOI: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2017.02.051
Julkaisun avoin saatavuus: Ei avoin
Julkaisukanavan avoin saatavuus:
Lisätietoja: Part of special issue: Proceedings of the 12th European Conference on Accelerators in Applied Research and Technology (ECAART12). 3rd–8th July 2016, Jyväskylä, Finland.
Vapaat asiasanat: ion sources; radiation effects; accelerators; beam cocktails
Liittyvät organisaatiot
OKM-raportointi: Kyllä
Raportointivuosi: 2017
JUFO-taso: 1