A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä
Application and development of ion-source technology for radiation-effects testing of electronics (2017)


Kalvas, T., Javanainen, A., Kettunen, H., Koivisto, H., Tarvainen, O., & Virtanen, A. (2017). Application and development of ion-source technology for radiation-effects testing of electronics. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 406(Part A), 205-209. https://doi.org/10.1016/j.nimb.2017.02.051


JYU-tekijät tai -toimittajat


Julkaisun tiedot

Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajatKalvas, Taneli; Javanainen, Arto; Kettunen, Heikki; Koivisto, Hannu; Tarvainen, Olli; Virtanen, Ari

Lehti tai sarjaNuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

ISSN0168-583X

eISSN1872-9584

Julkaisuvuosi2017

Volyymi406

Lehden numeroPart A

Artikkelin sivunumerot205-209

KustantajaElsevier B.V.

JulkaisumaaAlankomaat

Julkaisun kielienglanti

DOIhttps://doi.org/10.1016/j.nimb.2017.02.051

Julkaisun avoin saatavuusEi avoin

Julkaisukanavan avoin saatavuus

LisätietojaPart of special issue: Proceedings of the 12th European Conference on Accelerators in Applied Research and Technology (ECAART12). 3rd–8th July 2016, Jyväskylä, Finland.


Vapaat asiasanation sources; radiation effects; accelerators; beam cocktails


Liittyvät organisaatiot

JYU-yksiköt:
Muut organisaatiot:


OKM-raportointiKyllä

Raportointivuosi2017

JUFO-taso1


Viimeisin päivitys 2023-13-12 klo 17:04