A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa
The effect of microwave power on the Ar9+ and Ar13+ optical emission intensities and ion beam currents in ECRIS (2018)
Kronholm, R., Sakildien, M., Neben, D., Koivisto, H., Kalvas, T., Tarvainen, O., Laulainen, J., & Jones, P. (2018). The effect of microwave power on the Ar9+ and Ar13+ optical emission intensities and ion beam currents in ECRIS. In J. Lettry, E. Mahner, B. Marsh, R. Pardo, & R. Scrivens (Eds.), Proceedings of the 17th International Conference on Ion Sources (Article 040014). AIP Publishing. AIP Conference Proceedings, 2011. https://doi.org/10.1063/1.5053288
JYU-tekijät tai -toimittajat
Julkaisun tiedot
Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajat: Kronholm, Risto; Sakildien, M.; Neben, D.; Koivisto, Hannu; Kalvas, Taneli; Tarvainen, Olli; Laulainen, J.; Jones, P.
Emojulkaisu: Proceedings of the 17th International Conference on Ion Sources
Emojulkaisun toimittajat: Lettry, Jacques; Mahner, Edgar; Marsh, Bruce; Pardo, Richard; Scrivens, Richard
ISBN: 978-0-7354-1727-4
Lehti tai sarja: AIP Conference Proceedings
ISSN: 0094-243X
eISSN: 1935-0465
Julkaisuvuosi: 2018
Sarjan numero: 2011
Artikkelinumero: 040014
Kustantaja: AIP Publishing
Julkaisumaa: Yhdysvallat (USA)
Julkaisun kieli: englanti
DOI: https://doi.org/10.1063/1.5053288
Julkaisun avoin saatavuus: Ei avoin
Julkaisukanavan avoin saatavuus:
Julkaisu on rinnakkaistallennettu (JYX): https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/59940
Lisätietoja: The 17th International Conference on Ion Sources 15–20 September 2017, Geneva, Switzerland.
YSO-asiasanat: plasma (kaasut); plasmatekniikka; mikroaallot; ionit; spektroskopia; syklotronit
Vapaat asiasanat: plasma; optical emission spectroscopy
Liittyvät organisaatiot
Hankkeet, joissa julkaisu on tehty
- ENSAR2 European Nuclear Science and Application Research 2
- Jokinen, Ari
- Euroopan komissio
OKM-raportointi: Kyllä
Raportointivuosi: 2018
JUFO-taso: 1
