A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä
Mechanisms of Electron-Induced Single Event Latchup (2019)


Tali, M., Alía, R. G., Brugger, M., Ferlet-Cavrois, V., Corsini, R., Farabolini, W., Javanainen, A., Santin, G., Polo, C. B., & Virtanen, A. (2019). Mechanisms of Electron-Induced Single Event Latchup. IEEE Transactions on Nuclear Science, 66(1), 437-443. https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2884537


JYU-tekijät tai -toimittajat


Julkaisun tiedot

Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajatTali, Maris; Alía, Rubéen García; Brugger, Markus; Ferlet-Cavrois, Veronique; Corsini, Roberto; Farabolini, Wilfrid; Javanainen, Arto; Santin, Giovanni; Polo, Cesar Boatella; Virtanen, Ari

Lehti tai sarjaIEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN0018-9499

eISSN1558-1578

Julkaisuvuosi2019

Volyymi66

Lehden numero1

Artikkelin sivunumerot437-443

KustantajaInstitute of Electrical and Electronics Engineers

JulkaisumaaYhdysvallat (USA)

Julkaisun kielienglanti

DOIhttps://doi.org/10.1109/TNS.2018.2884537

Julkaisun avoin saatavuusEi avoin

Julkaisukanavan avoin saatavuus

Julkaisu on rinnakkaistallennettu (JYX)https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/66876


YSO-asiasanatsäteilyfysiikkaelektronithiukkaskiihdyttimet


Liittyvät organisaatiot

JYU-yksiköt:


OKM-raportointiKyllä

Raportointivuosi2019

JUFO-taso1


Viimeisin päivitys 2024-08-01 klo 21:00