A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä
Mechanisms of Electron-Induced Single Event Latchup (2019)
Tali, M., Alía, R. G., Brugger, M., Ferlet-Cavrois, V., Corsini, R., Farabolini, W., Javanainen, A., Santin, G., Polo, C. B., & Virtanen, A. (2019). Mechanisms of Electron-Induced Single Event Latchup. IEEE Transactions on Nuclear Science, 66(1), 437-443. https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2884537
JYU-tekijät tai -toimittajat
Julkaisun tiedot
Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajat: Tali, Maris; Alía, Rubéen García; Brugger, Markus; Ferlet-Cavrois, Veronique; Corsini, Roberto; Farabolini, Wilfrid; Javanainen, Arto; Santin, Giovanni; Polo, Cesar Boatella; Virtanen, Ari
Lehti tai sarja: IEEE Transactions on Nuclear Science
ISSN: 0018-9499
eISSN: 1558-1578
Julkaisuvuosi: 2019
Volyymi: 66
Lehden numero: 1
Artikkelin sivunumerot: 437-443
Kustantaja: Institute of Electrical and Electronics Engineers
Julkaisumaa: Yhdysvallat (USA)
Julkaisun kieli: englanti
DOI: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2884537
Julkaisun avoin saatavuus: Ei avoin
Julkaisukanavan avoin saatavuus:
Julkaisu on rinnakkaistallennettu (JYX): https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/66876
YSO-asiasanat: säteilyfysiikka; elektronit; hiukkaskiihdyttimet
Liittyvät organisaatiot
OKM-raportointi: Kyllä
Raportointivuosi: 2019
JUFO-taso: 1