A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä
Direct Ionization Impact on Accelerator Mixed-Field Soft Error Rate (2020)

Alía, R. G., Tali, M., Brugger, M., Cecchetto, M., Cerutti, F., Cononetti, A., Danzeca, S., Esposito, L., Fernández-Martínez, P., Gilardoni, S., Infantino, A., Kastriotou, M., Kerboub, N., Lerner, G., Wyrwoll, V., Ferlet-Cavrois, V., Boatella, C., Javanainen, A., Kettunen, H., . . . Puchner, H. (2020). Direct Ionization Impact on Accelerator Mixed-Field Soft Error Rate. IEEE Transactions on Nuclear Science, 67(1), 345-352. https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2951307

JYU-tekijät tai -toimittajat

Julkaisun tiedot

Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajat: Alía, R. G.; Tali, M.; Brugger, M.; Cecchetto, M.; Cerutti, F.; Cononetti, A.; Danzeca, S.; Esposito, L.; Fernández-Martínez, P.; Gilardoni, S.; et al.

Lehti tai sarja: IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

eISSN: 1558-1578

Julkaisuvuosi: 2020

Volyymi: 67

Lehden numero: 1

Artikkelin sivunumerot: 345-352

Kustantaja: Institute of Electrical and Electronics Engineers

Julkaisumaa: Yhdysvallat (USA)

Julkaisun kieli: englanti

DOI: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2951307

Julkaisun avoin saatavuus: Avoimesti saatavilla

Julkaisukanavan avoin saatavuus: Osittain avoin julkaisukanava

Julkaisu on rinnakkaistallennettu (JYX): https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/67649

Tiivistelmä

We investigate, through measurements and simulations, the possible direct ionization impact in the accelerator soft error rate, not considered in standard qualification approaches. Results show that, for a broad variety of state-of-the art commercial components considered in the 65 nm to 16 nm technological range, indirect ionization is still expected to dominate the overall soft-error rate in the accelerator mixed-field. However, the derived critical charges of the most sensitive parts, corresponding to ∼0.7 fC, are expected to be at the limit of rapid direct ionization dominance and soft-error increase.

YSO-asiasanat: säteilyfysiikka; ionisoiva säteily; mikroelektroniikka

Liittyvät organisaatiot

Hankkeet, joissa julkaisu on tehty

OKM-raportointi: Kyllä

Raportointivuosi: 2020

JUFO-taso: 1