A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä
Nanofabrication on 2D and 3D Topography via Positive‐Tone Direct‐Write Laser Lithography (2020)


Heiskanen, S., Geng, Z., Mastomäki, J., & Maasilta, I. J. (2020). Nanofabrication on 2D and 3D Topography via Positive‐Tone Direct‐Write Laser Lithography. Advanced Engineering Materials, 22(2), Article 1901290. https://doi.org/10.1002/adem.201901290


JYU-tekijät tai -toimittajat


Julkaisun tiedot

Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajatHeiskanen, Samuli; Geng, Zhuoran; Mastomäki, Jaakko; Maasilta, Ilari J.

Lehti tai sarjaAdvanced Engineering Materials

ISSN1438-1656

eISSN1527-2648

Julkaisuvuosi2020

Volyymi22

Lehden numero2

Artikkelinumero1901290

KustantajaWiley-VCH Verlag

JulkaisumaaSaksa

Julkaisun kielienglanti

DOIhttps://doi.org/10.1002/adem.201901290

Julkaisun avoin saatavuusEi avoin

Julkaisukanavan avoin saatavuus

Julkaisu on rinnakkaistallennettu (JYX)https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/68006


Tiivistelmä

Direct laser writing (DLW) lithography using two‐photon absorption is a powerful technique mostly used for fabrication of complex structures in micro‐ and nanoscale, by photopolymerizing a negative‐tone resist. In contrast, in this study it is demonstrated that DLW is also well suited for fabricating nano‐ to microscale metallic structures using lift‐off and a positive‐tone photoresist. It is shown first that versatile, fast and large area fabrication is possible on flat two‐dimensional insulating substrates, and an expression for how the line width varies with the scanning speed is derived, with excellent agreement with the experiments. Even more interestingly, a unique application for the DLW lift‐off process is demonstrated, by fabricating sub‐micron scale metallic wiring on uneven substrates with sloping elevation changes as high as 20 µm. Such fabrication is practically impossible with more standard lithographic techniques.


YSO-asiasanatnanotekniikkananorakenteetlasertekniikka

Vapaat asiasanatdirect laser writing; lift‐off nanofabrication; positive‐tone resist; two‐photon absorption


Liittyvät organisaatiot

JYU-yksiköt:


Hankkeet, joissa julkaisu on tehty


OKM-raportointiKyllä

Raportointivuosi2020

JUFO-taso1


Viimeisin päivitys 2024-03-04 klo 21:36