A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä
Assessment of Proton Direct Ionization for the Radiation Hardness Assurance of Deep Submicron SRAMs Used in Space Applications (2021)
Coronetti, A., Garcìa Alìa, R., Wang, J., Tali, M., Cecchetto, M., Cazzaniga, C., Javanainen, A., Saigné, F., & Leroux, P. (2021). Assessment of Proton Direct Ionization for the Radiation Hardness Assurance of Deep Submicron SRAMs Used in Space Applications. IEEE Transactions on Nuclear Science, 68(5), 937-948. https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3061209
JYU-tekijät tai -toimittajat
Julkaisun tiedot
Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajat: Coronetti, Andrea; Garcìa Alìa, Rubén; Wang, Jialei; Tali, Maris; Cecchetto, Matteo; Cazzaniga, Carlo; Javanainen, Arto; Saigné, Frédéric; Leroux, Paul
Lehti tai sarja: IEEE Transactions on Nuclear Science
ISSN: 0018-9499
eISSN: 1558-1578
Julkaisuvuosi: 2021
Volyymi: 68
Lehden numero: 5
Artikkelin sivunumerot: 937-948
Kustantaja: IEEE
Julkaisumaa: Yhdysvallat (USA)
Julkaisun kieli: englanti
DOI: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3061209
Julkaisun avoin saatavuus: Avoimesti saatavilla
Julkaisukanavan avoin saatavuus: Osittain avoin julkaisukanava
Julkaisu on rinnakkaistallennettu (JYX): https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/74417
Tiivistelmä
Proton direct ionization from low-energy protons has been shown to have a potentially significant impact on the accuracy of prediction methods used to calculate the upset rates of memory devices in space applications for state-of-the-art deep sub-micron technologies. The general approach nowadays is to consider a safety margin to apply over the upset rate computed from high-energy proton and heavy ion experimental data. The data reported here present a challenge to this approach. Different upset rate prediction methods are used and compared in order to establish the impact of proton direct ionization on the total upset rate. No matter the method employed the findings suggest that proton direct ionization can contribute to up to 90% of the total upset rate on average for a general selection of space orbits, with peaks of up to 99%. Such results suggest that an approach based on the characterization of the low-energy portion of the proton spectrum would be more convenient for similar technologies than the application of a general safety margin. Based on data presented here, the previously proposed margin of 5 is exceeded, by large amounts in some cases.
YSO-asiasanat: säteilyfysiikka; ionisoiva säteily; protonit; mikroelektroniikka; muistit (tietotekniikka); käyttömuistit; avaruustekniikka
Liittyvät organisaatiot
Hankkeet, joissa julkaisu on tehty
- Radiation and Reliability Challenges for Electronics Used in Space, Aviation, Ground and Accelerators
- Virtanen, Ari
- Euroopan komissio
- RADEF aseman hyödyntäminen componenttien säteilytystesteihin 2018-2020
- Kettunen, Heikki
- European Space Agency
OKM-raportointi: Kyllä
VIRTA-lähetysvuosi: 2021
JUFO-taso: 1