A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä
Assessment of Proton Direct Ionization for the Radiation Hardness Assurance of Deep Submicron SRAMs Used in Space Applications (2021)


Coronetti, A., Garcìa Alìa, R., Wang, J., Tali, M., Cecchetto, M., Cazzaniga, C., Javanainen, A., Saigné, F., & Leroux, P. (2021). Assessment of Proton Direct Ionization for the Radiation Hardness Assurance of Deep Submicron SRAMs Used in Space Applications. IEEE Transactions on Nuclear Science, 68(5), 937-948. https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3061209


JYU-tekijät tai -toimittajat


Julkaisun tiedot

Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajatCoronetti, Andrea; Garcìa Alìa, Rubén; Wang, Jialei; Tali, Maris; Cecchetto, Matteo; Cazzaniga, Carlo; Javanainen, Arto; Saigné, Frédéric; Leroux, Paul

Lehti tai sarjaIEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN0018-9499

eISSN1558-1578

Julkaisuvuosi2021

Volyymi68

Lehden numero5

Artikkelin sivunumerot937-948

KustantajaIEEE

JulkaisumaaYhdysvallat (USA)

Julkaisun kielienglanti

DOIhttps://doi.org/10.1109/TNS.2021.3061209

Julkaisun avoin saatavuusAvoimesti saatavilla

Julkaisukanavan avoin saatavuusOsittain avoin julkaisukanava

Julkaisu on rinnakkaistallennettu (JYX)https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/74417


Tiivistelmä

Proton direct ionization from low-energy protons has been shown to have a potentially significant impact on the accuracy of prediction methods used to calculate the upset rates of memory devices in space applications for state-of-the-art deep sub-micron technologies. The general approach nowadays is to consider a safety margin to apply over the upset rate computed from high-energy proton and heavy ion experimental data. The data reported here present a challenge to this approach. Different upset rate prediction methods are used and compared in order to establish the impact of proton direct ionization on the total upset rate. No matter the method employed the findings suggest that proton direct ionization can contribute to up to 90% of the total upset rate on average for a general selection of space orbits, with peaks of up to 99%. Such results suggest that an approach based on the characterization of the low-energy portion of the proton spectrum would be more convenient for similar technologies than the application of a general safety margin. Based on data presented here, the previously proposed margin of 5 is exceeded, by large amounts in some cases.


YSO-asiasanatsäteilyfysiikkaionisoiva säteilyprotonitmikroelektroniikkamuistit (tietotekniikka)käyttömuistitavaruustekniikka


Liittyvät organisaatiot

JYU-yksiköt:


Hankkeet, joissa julkaisu on tehty


OKM-raportointiKyllä

Raportointivuosi2021

JUFO-taso1


Viimeisin päivitys 2024-18-02 klo 20:36