A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä
Proton Direct Ionization in Sub-Micron Technologies : Numerical Method for RPP Parameter Extraction (2022)
Lüdeke, S., & Javanainen, A. (2022). Proton Direct Ionization in Sub-Micron Technologies : Numerical Method for RPP Parameter Extraction. IEEE Transactions on Nuclear Science, 69(3), 254-263. https://doi.org/10.1109/tns.2022.3147592
JYU-tekijät tai -toimittajat
Julkaisun tiedot
Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajat: Lüdeke, Sascha; Javanainen, Arto
Lehti tai sarja: IEEE Transactions on Nuclear Science
ISSN: 0018-9499
eISSN: 1558-1578
Julkaisuvuosi: 2022
Volyymi: 69
Lehden numero: 3
Artikkelin sivunumerot: 254-263
Kustantaja: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Julkaisumaa: Yhdysvallat (USA)
Julkaisun kieli: englanti
DOI: https://doi.org/10.1109/tns.2022.3147592
Julkaisun avoin saatavuus: Ei avoin
Julkaisukanavan avoin saatavuus:
Julkaisu on rinnakkaistallennettu (JYX): https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/79676
Tiivistelmä
This work introduces a numerical method to iteratively extract parameters of a rectangular parallelepiped (RPP) sensitive volume (SV) from experimental proton direct ionization SEU data. The method combines two separate numerical models. The first model estimates the average LET values for energetic ions, including protons and also heavy ions, in elemental solid targets. The second model describes the statistical variance in the energy deposition events of projectile-induced primary ionization within a RPP shaped target volume. To benchmark the method, simulated cross-section values based on RPP parameters derived with this method are compared with literature data from four SRAM devices. The RPP geometries determined by this method reproduced the experimental cross-section values in the literature with good accuracy, therefore showing that this method can be used to reliably and quickly determine the RPP parameters for SVs in memories sensitive to proton direct ionization (PDI). The method is currently strictly limited to direct ionization effects, i.e. not taking into account any nuclear reaction mechanisms, and elemental materials due to the underlying models’ definitions.
YSO-asiasanat: säteilyfysiikka; ionisoiva säteily; protonit; numeeriset menetelmät; Monte Carlo -menetelmät
Vapaat asiasanat: proton direct ionization (PDI); single event upset (SEU); linear energy transfer (LET); straggling; Monte Carlo (MC) method; rectangular parallelepiped (RPP)
Liittyvät organisaatiot
Hankkeet, joissa julkaisu on tehty
- Radiation and Reliability Challenges for Electronics Used in Space, Aviation, Ground and Accelerators
- Virtanen, Ari
- Euroopan komissio
- Estimation of proton induced Single Event Effect rates in very deep submicron technologies
- Javanainen, Arto
- European Space Agency
Liittyvät tutkimusaineistot
OKM-raportointi: Kyllä
VIRTA-lähetysvuosi: 2022
JUFO-taso: 1