A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä
Learning the core ideas of scanning probe microscopy by toy model inquiries (2013)
Lindell, A., & Kähkönen, A.-L. (2013). Learning the core ideas of scanning probe microscopy by toy model inquiries. Nanotechnology Reviews, 2(2), 229-239. https://doi.org/10.1515/ntrev-2012-0052
JYU-tekijät tai -toimittajat
Julkaisun tiedot
Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajat: Lindell, Anssi; Kähkönen, Anna-Leena
Lehti tai sarja: Nanotechnology Reviews
ISSN: 2191-9097
eISSN: 2191-9097
Julkaisuvuosi: 2013
Volyymi: 2
Lehden numero: 2
Artikkelin sivunumerot: 229–239
Kustantaja: De Gruyter
Julkaisumaa: Saksa
Julkaisun kieli: englanti
DOI: https://doi.org/10.1515/ntrev-2012-0052
Pysyvä verkko-osoite: http://www.degruyter.com/view/j/ntrev.2013.2.issue-2/ntrev-2012-0052/ntrev-2012-0052.xml
Julkaisun avoin saatavuus: Ei avoin
Julkaisukanavan avoin saatavuus:
YSO-asiasanat: oppiminen; atomivoimamikroskopia
Vapaat asiasanat: pyyhkäisymikroskopia; yliopisto-opetus
Liittyvät organisaatiot
OKM-raportointi: Kyllä
Raportointivuosi: 2013
JUFO-taso: 1
