A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä
Methodologies for the Statistical Analysis of Memory Response to Radiation (2016)

Bosser, A., Gupta, V., Tsiligiannis, G., Frost, C. D., Zadeh, A., Jaatinen, J., Javanainen, A., Puchner, H., Saigné, F., Virtanen, A., Wrobel, F., & Dilillo, L. (2016). Methodologies for the Statistical Analysis of Memory Response to Radiation. IEEE Transactions on Nuclear Science, 63(4), 2122-2128. https://doi.org/10.1109/TNS.2016.2527781

JYU-tekijät tai -toimittajat

Julkaisun tiedot

Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajat: Bosser, Alexandre; Gupta, Viyas; Tsiligiannis, Georgios; Frost, Christopher D.; Zadeh, Ali; Jaatinen, Jukka; Javanainen, Arto; Puchner, Helmut; Saigné, Frédéric; Virtanen, Ari; et al.

Lehti tai sarja: IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

eISSN: 1558-1578

Julkaisuvuosi: 2016

Volyymi: 63

Lehden numero: 4

Artikkelin sivunumerot: 2122-2128

Kustantaja: Institute of Electrical and Electronics Engineers

Julkaisumaa: Yhdysvallat (USA)

Julkaisun kieli: englanti

DOI: https://doi.org/10.1109/TNS.2016.2527781

Julkaisun avoin saatavuus: Ei avoin

Julkaisukanavan avoin saatavuus: 

Julkaisu on rinnakkaistallennettu (JYX): https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/51096

YSO-asiasanat: säteily

Vapaat asiasanat: memory response; statistical analysis

Liittyvät organisaatiot

OKM-raportointi: Kyllä

Raportointivuosi: 2016

JUFO-taso: 1