A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä
Mechanisms of Electron-Induced Single Event Upsets in Medical and Experimental Linacs (2018)

Tali, M., Alía, R. G., Brugger, M., Ferlet-Cavrois, V., Corsini, R., Farabolini, W., Javanainen, A., Kastriotou, M., Kettunen, H., Santin, G., Polo, C. B., Tsiligiannis, G., Danzeca, S., & Virtanen, A. (2018). Mechanisms of Electron-Induced Single Event Upsets in Medical and Experimental Linacs. IEEE Transactions on Nuclear Science, 65(8), 1715-1723. https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2843388

JYU-tekijät tai -toimittajat

Tali, Maris
Javanainen, Arto
Kettunen, Heikki
Virtanen, Ari

Julkaisun tiedot

Julkaisun kaikki tekijät tai toimittajat: Tali, Maris; Alía, Rubéen García; Brugger, Markus; Ferlet-Cavrois, Veronique; Corsini, Roberto; Farabolini, Wilfrid; Javanainen, Arto; Kastriotou, Maria; Kettunen, Heikki; Santin, Giovanni; et al.

Lehti tai sarja: IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

eISSN: 1558-1578

Julkaisuvuosi: 2018

Volyymi: 65

Lehden numero: 8

Artikkelin sivunumerot: 1715-1723

Kustantaja: IEEE

Julkaisumaa: Yhdysvallat (USA)

Julkaisun kieli: englanti

DOI: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2843388

Julkaisun avoin saatavuus: Ei avoin